Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.11.2016

ÖNORM EN ISO 18452

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer (ISO 18452:2005)

Verfügbare Sprachen: Deutsch, Englisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

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Detailinformationen

Bezeichnung: ÖNORM EN ISO 18452

Ausgabedatum: 01.11.2016

Seiten: 15

Land: Österreichische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke feinkeramischer Schichten und keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer fest. Das Verfahren ist für Schichtdicken im Bereich von 10 nm bis 10 000 nm geeignet.

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