Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Transistors. Measurement of absolute value of short-circuit forward transfer admittance
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN 358749
Ausgabedatum: 01.08.1973
Seiten: 0
Anmerkung: Ungültige
Land: Slowakische technische Norm