Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN EN 60749-23
Ausgabedatum: 01.10.2004
Seiten: 29
Land: Slowakische technische Norm