Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN EN 60749-3
Ausgabedatum: 01.02.2003
Seiten: 2
Anmerkung: Ungültige
Land: Slowakische technische Norm