STN EN IEC 60749-41 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.12.2020

STN EN IEC 60749-41

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

Detailinformationen

Bezeichnung: STN EN IEC 60749-41

Ausgabedatum: 01.12.2020

Seiten: 0

Land: Slowakische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.