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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.08.2015
UNE-EN 62047-17:2015
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (Endorsed by AENOR in August of 2015.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 1 790.10 CZK
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 62047-17:2015
Ausgabedatum: 01.08.2015
Seiten: 31
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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