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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.01.2007
UNE-EN 62047-2:2006
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 2: Tensile testing method of thin film materials (IEC 62047-2:2006). (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 57.80 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 62047-2:2006
Ausgabedatum: 01.01.2007
Seiten: 17
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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