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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.09.2011
UNE-EN 62047-8:2011
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (Endorsed by AENOR in September of 2011.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 64.70 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: UNE-EN 62047-8:2011
Ausgabedatum: 01.09.2011
Seiten: 21
Land: Spanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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