Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
Available languages: English
Available design: Online Secure PDF
Designation: ASTM E1250-88(2005)
Publication date: 01/01/2005
Pages: 11
Note: Withdrawn
Country: American technical standard