Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption
Available languages: English
Available design: Online Secure PDF
Designation: ASTM F1188-00
Publication date: 10/06/2000
Pages: 5
Note: Withdrawn
Country: American technical standard