Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
Available languages: English
Available design: Online Secure PDF
Designation: ASTM F1262M-95
Publication date: 10/11/1995
Pages: 5
Note: Withdrawn
Country: American technical standard