Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly.
Available languages: English
Available design: PDF - Immediate download, Print design
Designation: BS EN IEC 60749-10:2022
Publication date: 16/08/2022
Pages: 16
Country: British technical standard