Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level.
Available languages: English
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: BS EN IEC 60749-28:2022-TC
Publication date: 22/12/2022
Pages: 124
Country: British technical standard