Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane.
Available languages: English
Available design: PDF - Immediate download, Print design
Designation: BS IEC 62047-46:2025
Publication date: 30/04/2025
Pages: 18
Country: British technical standard