Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/11/2003
ČSN EN 60749-16
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
from 10.70 USD
show on eshop
Detail information
Designation: ČSN EN 60749-16
Publication date: 01/11/2003
Pages: 20
Country: Czech technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Účelem této části normy IEC 60749 je zjistit přítomnost volných částic uvnitř dutiny součástky, jako např. odštěpků keramiky, kousků spojovacího drátu, nebo kuliček pájky (perliček). Zkouška zjišťování šumu způsobeného nárazem částic je považována za nedestruktivní.Popular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
