ČSN EN 60749-2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Available languages: Czech preface only

Available design: Print design

from 3.00 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN 60749-2

Publication date: 01/04/2003

Pages: 4

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušení nízkého tlaku vzduchu na polovodičových součástkách. Zkouška je určena především ke stanovení způsobilosti částí a materiálů součástek vyhnout se poruchám průrazem napětí, způsobeným snížením dielektrické pevnosti vzduchu a jiných dielektrických materiálů při snížených tlacích. Tato zkouška je vhodná pouze pro součástky u nichž pracovní napětí přesahuje 1 000 V.
Tato zkouška je vhodná pro všechny polovodičové součástky, za předpokladu, že jejich pouzdra patří mezi typy s dutinou. Zkouška je určena pouze pro součástky používané pro vojenské a kosmické účely. Obecně je tato zkouška nízkým tlakem vzduchu v souladu s IEC 60068-2-13, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.

Popular Publishers

full catalog