Active standard | Published: 01/05/2007

ČSN EN 60749-35

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 26.10 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN 60749-35

Publication date: 01/05/2007

Pages: 48

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato část souboru norem IEC 60749 popisuje postupy pro provádění akustické mikroskopie na elektronických součástkách zapouzdřených do plastu. Poskytuje návod na používání akustické mikroskopie pro detekci anomálií (delaminace, praskliny, dutiny v zalévací hmotě atp.). Metoda je reprodukovatelná, nedestruktivní. Přejímaná EN 60749-35 představuje 2 strany anglického textu a 43 stran anglického a francouzského textu normy IEC

Popular Publishers

full catalog