ČSN EN 60749-44

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 16.80 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN 60749-44

Publication date: 01/02/2017

Pages: 32

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato norma stanovuje postup pro měření efektu samostatné události (SEE) pro integrované obvody s vysokou hustotou integrace, zahrnuje zachování dat pro součástky s pamětí, pokud jsou vystaveny atmosférickému neutronovému záření, které produkuje kosmické záření. U metody efektu samostatné události se měří citlivost, přičemž je součástka ozářena neutronovým svazkem o známém toku. Tato zkušební metoda je použitelná pro kterýkoliv typ integrovaného obvodu.
POZNÁMKA 1: Polovodičové součástky, na které působí vysoké napěťové namáhání, mohou být vystaveny samostatné události zahrnující samostatný efekt vyhoření (SEB) a samostatný efekt prasknutí hradla (SEGR). Pro subjekt, který není uveden v tomto dokumentu prosím nahlédněte do IEC 62396-4 [2].
POZNÁMKA 2: Navíc působením neutronů o vysoké energii mohou některé součástky vykazovat měkkou chybu v důsledku tepelných neutronů s nízkou energií (<1 eV). Pro subjekt, který není uveden v tomto dokumentu prosím nahlédněte do IEC 62396-5 [3]

Popular Publishers

full catalog