Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperaturet
Available design: Print design
Designation: ČSN EN 60749-6
Publication date: 01/04/2003
Pages: 4
Note: Withdrawn
Country: Czech technical standard