Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Designation: ČSN EN 62047-21
Publication date: 01/04/2015
Pages: 24
Country: Czech technical standard