ČSN EN 62276-ed.3

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 17.90 EUR show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN 62276-ed.3

Publication date: 01/06/2017

Pages: 48

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato norma se týká výroby orientovaných monokrystalických desek ze syntetického křemene, lithium niobátu (LN), lithium tantalátu (LT), lithium tetraborátu (LBO) a lanthan gallium silikátu (LGS). Tyto monokrystalické desky se používají jako substráty při výrobě rezonátorů a filtrů s povrchovou akustickou vlnou (PAV).
Norma stanovuje specifikaci požadavků na materiál a na desky, které jsou z něho vyrobeny. Dále jsou uvedeny metody zkoušení jednotlivých parametrů monokrystalických desek, včetně geometrie a defektů povrchu, inkluzí, mřížkové konstanty, krystalové orientace a další. Jsou rovněž uvedeny metody vizuální kontroly, identifikace, značení, balení a dodací podmínky pro tyto desky

Popular Publishers

full catalog