Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/07/2011
ČSN EN 62374-1
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
from 16.20 USD
show on eshop
Detail information
Designation: ČSN EN 62374-1
Publication date: 01/07/2011
Pages: 28
Country: Czech technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Tato norma popisuje zkušební metodu, zkušební strukturu a metodu pro odhad životnosti pro zkoušku časově závislého dielektrického průrazu (TDDB) pro intermetalické vrstvy vytvořené pro polovodičové součástkyPopular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
