Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Designation: ČSN EN IEC 60749-24-ed.2
Publication date: 01/06/2026
Pages: 20
Country: Czech technical standard