Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Designation: ČSN EN IEC 60749-37-ed.2
Publication date: 01/06/2023
Pages: 32
Country: Czech technical standard