Active standard | Published: 01/09/2025

ČSN EN IEC 63185-ed.2

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method

Available languages: English

Available design: Print design

from 16.40 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN IEC 63185-ed.2

Publication date: 01/09/2025

Pages: 24

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

This document relates to a measurement method for complex permittivity of dielectric substrates at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the dielectric properties of low-loss materials used in microwave and millimeter-wave circuits and devices. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband measurements of dielectric substrates by using one resonator, where the effect of excitation holes and that of fringing fields are taken into account accurately on the basis of the mode-matching analysis
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.