Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/12/2023
ČSN EN IEC 63287-2
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
from 338.00 CZK
show on eshop
Detail information
Designation: ČSN EN IEC 63287-2
Publication date: 01/12/2023
Pages: 28
Country: Czech technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Tato norma poskytuje směrnice pro sestavení kvalifikačních plánů spolehlivosti s využitím konceptu profilu nasazení na základě environmentálních podmínek a navrhovaného použití produktu. Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikacePopular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
