ČSN EN IEC 63373

Dynamic on-resistance test method guidelines for GaN HEMT based power conversion devices

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 14.00 EUR show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN IEC 63373

Publication date: 01/10/2022

Pages: 24

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Obecně je zkoušení dynamického elektrického odporu v sepnutém stavu měřítkem jevů zachycování náboje ve výkonových tranzistorech GaN. Tato norma poskytuje návod pro zkoušení dynamického odporu v sepnutém stavu laterálních výkonových tranzistorů GaN. Zkušební metody lze použít pro následující případy:
a) diskrétní výkonové součástky GaN v obohaceném a ochuzeném režimu [3];
b) GaN v integrovaných výkonových řešeních;
c) výše uvedené na úrovni desky nebo pouzdra.
Předepsané zkušební metody lze použít pro stanovení charakteristik součástek, výrobní zkoušky, hodnocení spolehlivosti a posouzení aplikací GaN součástek pro výkonové měniče. Tato norma se nezabývá příslušnými mechanismy dynamického elektrického odporu v sepnutém stavu a jeho symbolické reprezentace pro specifikace výrobků

Popular Publishers

full catalog