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Active standard | Published: 01/09/2004
DIN EN 60749-33:2004-09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
from 56.20 EUR
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Detail information
Designation: DIN EN 60749-33:2004-09
Publication date: 01/09/2004
Pages: 10
Country: German technical standard
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