Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Gleichmäßiges Beschleunigen.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
Designation: DIN EN 60749-36:2003-12
Publication date: 01/12/2003
Pages: 7
Country: German technical standard