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Active standard | Published: 01/10/2008
DIN EN 60749-38:2008-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
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Detail information
Designation: DIN EN 60749-38:2008-10
Publication date: 01/10/2008
Pages: 14
Country: German technical standard
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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.Popular Publishers
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