Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
Available languages: English, Chinese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: GB/T 19403.1-2003
Publication date: 24/11/2003
Pages: 0
Country: Chinese technical standard