Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps
Available languages: English, Chinese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: GB/T 27760-2011
Publication date: 30/12/2011
Pages: 0
Country: Chinese technical standard