Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips
Available languages: English, Chinese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: GB/T 43748-2024
Publication date: 15/03/2024
Pages: 0
Country: Chinese technical standard