Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Fine ceramics—Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
Available languages: English, Chinese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: GB/T 47625-2026
Publication date: 25/05/2026
Pages: 0
Country: Chinese technical standard