Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 10: Mechanical shock—Device and subassembly
Available languages: English, Chinese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: GB/T 4937.10-2025
Publication date: 31/12/2025
Pages: 0
Country: Chinese technical standard