Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Charged device model (CDM)—device level
Available languages: English, Chinese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: GB/T 4937.28-2026
Publication date: 27/02/2026
Pages: 0
Country: Chinese technical standard