IEC 61124-ed.4.0

Detail information

Designation: IEC 61124-ed.4.0

Publication date: 24/02/2023

Pages: 182

Country: International technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

IEC 61124:2023 gives a number of optimized test plans, the corresponding border lines and characteristics. In addition, the algorithms for designing test plans using a spreadsheet program are also given, together with guidance on how to choose test plans. This document specifies procedures to test whether an observed value of

• failure rate,
• failure intensity,
• mean operating time to failure (MTTF),
• mean operating time between failures (MTBF),

conforms to a given requirement. It is assumed, except where otherwise stated, that during the accumulated test time, the times to failure or the operating times between failures are independent and identically exponentially distributed. This assumption implies that the failure rate or failure intensity is assumed to be constant. LIEC 61124:2023 specifie un certain nombre de plans d’essai optimises, ainsi que les limites et caracteristiques correspondantes. De plus, les algorithmes pour concevoir des plans d’essai a l’aide d’une feuille de calcul sont egalement fournis, avec des recommandations relatives au choix de ces plans. Le present document specifie les procedures utilisees pour verifier qu’une valeur observee:

• d’un taux de defaillance;
• d’une intensite de defaillance;
• d’un temps moyen de fonctionnement avant defaillance (MTTF);
• d’un temps moyen de fonctionnement entre defaillances (MTBF).

est conforme a une exigence donnee. Il est presume, sauf specification contraire, que pendant le temps d’essai cumule, les temps de fonctionnement avant defaillance ou les temps de fonctionnement entre defaillances sont independants et suivent une distribution identique et exponentielle. Cette hypothese implique que le taux de defaillance ou l’intensite de defaillance est presume constant.