IEC 61701-ed.3.0

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Designation: IEC 61701-ed.3.0

Publication date: 11/06/2020

Pages: 0

Country: International technical standard

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Anotation

IEC 61701:2020 describes test sequences useful to determine the resistance of different PV modules to corrosion from salt mist containing Cl (NaCl, MgCl2, etc.). All tests included in the sequences are fully described in IEC 61215-2, IEC 62108, IEC 61730-2 and IEC 60068-2-52. The bypass diode functionality test in this document is modified from its description in IEC 61215-2. They are combined in this document to provide means to evaluate possible faults caused in PV modules when operating under wet atmospheres having high concentration of dissolved salt (NaCl). Depending on the specific nature of the surrounding atmosphere to which the module is exposed in real operation several testing methods can be applied, as defined in IEC 60068-2-52. Guidance for determining the applicability of this document and selecting an appropriate method is provided in Annex A. This third edition cancels and replaces the second edition issued in 2011. The main technical changes with respect to the previous edition are as follows: - The scope has been updated to better reflect the applicability of the Standard - Test methods and requirements have been condensed and aligned with the new editions of IEC 61215-1, IEC 61215-2, and IEC 61730-2. References to crystalline silicon versus thin film technologies have been eliminated. The old Figure 2 on the thin film test sequence has been eliminated. - The salt mist test references have been updated to harmonize with changes to IEC 60068-2-52. - A normative annex has been added to provide guidance on which of the test methods in IEC 60068-2-52 are applicable to different applications. This includes references to new test methods in the latest edition of IEC 60068-2-52. l’IEC 61701:2020 decrit des sequences dessai utiles pour determiner la resistance de differents modules photovoltaiques a la corrosion due au brouillard salin contenant du Cl- (NaCl, MgCl2, etc.). Tous les essais inclus dans les sequences sont decrits de facon detaillee dans les normes IEC 61215-2, IEC 62108, IEC 61730-2 et IEC 60068-2-52. L’essai de fonctionnalite des diodes de derivation du present document est modifie par rapport a sa description dans l’IEC 61215-2. Les essais sont combines dans le present document pour fournir des moyens devaluer les pannes possibles causees dans les modules photovoltaiques qui fonctionnent en atmospheres humides avec une forte concentration de sels dissous (NaCl). En fonction de la nature specifique de latmosphere environnante a laquelle le module est expose en fonctionnement reel, plusieurs methodes dessai peuvent etre appliquees comme cela est defini dans l’IEC 60068-2-52. Des recommandations pour la determination de l’applicabilite du present document et le choix d’une methode appropriee sont donnees a l’Annexe A. Cette troisieme edition annule et remplace la deuxieme edition parue en 2011. Les principales modifications techniques par rapport a ledition precedente sont les suivantes: - Le domaine dapplication a ete mis a jour pour mieux refleter les conditions dapplication de la Norme. - Les methodes et exigences d’essai ont ete condensees et alignees sur les nouvelles editions de l’IEC 61215-1, de l’IEC 61215-2 et de l’IEC 61730-2. Les references au silicium cristallin en rapport avec les technologies a couches minces ont ete supprimees. L’ancienne Figure 2 relative a la sequence d’essai en couches minces a ete supprimee. - Les references a l’essai au brouillard salin ont ete mises a jour afin de les aligner sur les modifications de l’IEC 60068-2-52. - Une annexe normative a ete ajoutee afin de fournir des recommandations relatives aux methodes dessai de l’IEC 60068-2-52 applicables aux differentes applications. Elle comprend des references aux nouvelles methodes dessai de la derniere edition de l’IEC 60068-2-52.