Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Available languages: English
Available design: electronic design (pdf), Print design, CD-ROM
Designation: IEC 62047-43-ed.1.0
Publication date: 19/03/2024
Pages: 18
Country: International technical standard