Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505™
Available languages: English
Available design: electronic design (pdf), Print design, CD-ROM
Designation: IEC 63003-ed.1.0
Publication date: 14/12/2015
Pages: 162
Country: International technical standard