Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
Available languages: English
Available design: electronic (protected pdf) - Immediate download, Print design
Designation: IEEE 1500-2005
Publication date: 29/08/2005
Pages: 136
Note: Withdrawn
Country: International technical standard