JIS C2170:2004 img
Active standard | Published: 20/03/2004

JIS C2170:2004

Electrostatics -- Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid planar materials used to avoid electrostatic charge accumulation

Available languages: English, Japanese

Available design: electronic design (pdf), Print design

from 21 473.80 USD show on eshop

Detail information

Designation: JIS C2170:2004

Publication date: 20/03/2004

Pages: 15

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

English Errata (201101) Japanese Errata (201012)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.