Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
General test procedure of failure rate for electronic components
Available languages: English, Japanese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: JIS C5003:1974
Publication date: 31/07/1974
Pages: 9