Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy
Available languages: Japanese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: JIS R1683:2014
Publication date: 20/10/2014
Pages: 24