Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Transistors. Methods for measurement of output capacity in common base connection
Available design: Print design
Designation: STN 358757-10
Publication date: 01/09/1986
Pages: 0
Note: Withdrawn
Country: Slovak technical standard