Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Available design: Print design
Designation: STN EN 60749-18
Publication date: 01/10/2003
Pages: 16
Note: Withdrawn
Country: Slovak technical standard