Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Available languages: English
Available design: Print design
Designation: STN EN 60749-33
Publication date: 01/10/2004
Pages: 15
Country: Slovak technical standard