Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials (Endorsed by AENOR in December of 2011.)
Available languages: English
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: UNE-EN 62047-10:2011
Publication date: 01/12/2011
Pages: 15
Country: Spanish technical standard