Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 3381
Semiductors devices. Integrated circuits. Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits
Dostupné jazyky: Česky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 20: Kmenová norma pro vrstvové integrované obvody a hybridní integrované obvody.
Dostupné jazyky: Česky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions
Dostupné prevedenie: Tlačené
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions
Dostupné prevedenie: Tlačené
Semiductors devices. Integrated circuits. Part 1: General
Dostupné prevedenie: Tlačené
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method
Dostupné prevedenie: Tlačené
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ohm/150 Ohm direct coupling method
Dostupné prevedenie: Tlačené
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
Dostupné prevedenie: Tlačené