DIN - Německé národní normy

Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 2: Determination of volatile components, total carbon, free carbon, silicon carbide, total and free silicon, free and surface silica.
(Chemische Analyse von Rohstoffen und feuerfesten Erzeugnissen, die Siliciumcarbid, Siliciumnitrid, Siliciumoxinitrid und Sialon enthalten - Teil 2: Bestimmung des Gehaltes an flüchtigen Bestandteilen, Gesamtkohlenstoff, freiem Kohlenstoff, Siliciumcarbid, gesamtem und freiem Silicium, freiem und anhaftendem Siliciumdioxid.)

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Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 3: Determination of nitrogen, oxygen and metallic and oxidic constituents.
(Chemische Analyse von Rohstoffen und feuerfesten Erzeugnissen, die Siliciumcarbid, Siliciumnitrid, Siliciumoxynitrid und Sialon enthalten - Teil 3: Bestimmung des Gehaltes an Stickstoff, Sauerstoff sowie metallischen und oxidischen Bestandteilen.)

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Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon - Part 4: XRD methods.
(Chemische Analyse von Rohstoffen und feuerfesten Erzeugnissen, die Siliciumcarbid, Siliciumnitrid, Siliciumoxinitrid und Sialon enthalten - Teil 4: XRD-Verfahren.)

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Office machines; character families for textpreparation equipment.
(Büro- und Datentechnik; Schriftfamilien für Maschinen der Textverarbeitung.)

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Determination of boron (III) oxide in refractory products - Part 1: Determination of total boron (III) oxide in oxidic materials for ceramics, glass and glazes.
(Bestimmung des Gehaltes an Bor(III)-oxid in feuerfesten Erzeugnissen - Teil 1: Bestimmung des Gesamtgehaltes an Bor(III)-oxid in oxidischen Werkstoffen für Keramik, Glas und Glasuren.)

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Determination of boron(III) oxide in refractory products - Part 2: Acid extraction method for the determination of boron(III) oxide in binder components.
(Bestimmung des Gehaltes an Bor(III)-oxid in feuerfesten Erzeugnissen - Teil 2: Säureextraktionsverfahren zur Bestimmung des Bor(III)-oxid-Gehaltes in Binderkomponenten.)

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Chemical analysis of refractories containing alumina, zirconia and silica - Refractories containing 5 % to 45 % of ZrO2 (alternative to the X-ray fluorescence method) - Part 1: Apparatus, reagents and dissolution.
(Chemische Analyse von aluminiumoxid-, zirkoniumoxid- und silicium(IV)-oxidhaltigen feuerfesten Erzeugnissen - Feuerfeste Erzeugnisse mit einem Massenanteil an ZrO2 von 5 % bis 45 % (Alternative zum Röntgenfluoreszenzverfahren) - Teil 1: Geräte, Reagenzien und Aufschluss.)

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Chemical analysis of refractories containing alumina, zirconia and silica - Refractories containing 5 % to 45 % of ZrO2 (alternative to the X-ray fluorescence method) - Part 2: Wet chemical analysis.
(Chemische Analyse von aluminiumoxid-, zirkoniumoxid- und silicium(IV)-oxidhaltigen feuerfesten Erzeugnissen - Feuerfeste Erzeugnisse mit einem Massenanteil an ZrO2 von 5 % bis 45 % (Alternative zum Röntgenfluoreszenzverfahren) - Teil 2: Nasschemische Analyse.)

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Chemical analysis of refractories containing alumina, zirconia and silica - Refractories containing 5 % to 45 % of ZrO2 (alternative to the X-ray fluorescence method) - Part 3: Flame atomic absorption spectrophotometry (FAAS) and inductively coupled plasma emission spectrometry (ICP-AES).
(Chemische Analyse von aluminiumoxid-, zirkoniumoxid- und silicium(IV)-oxidhaltigen feuerfesten Erzeugnissen - Feuerfeste Erzeugnisse mit einem Massenanteil an ZrO2 von 5 % bis 45 % (Alternative zum Röntgenfluoreszenzverfahren) - Teil 3: Flammenatomabsorptionsspektrophotometrie (FAAS) und Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-AES).)

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Test method to measure the efficiency of air filtration media against spherical nanomaterials - Part 1: Size range from 20 nm to 500 nm.
(Prüfverfahren zur Messung der Effizienz von Luftfiltrationsmedien gegen sphärische Nanomaterialien - Teil 1: Partikelgrößenbereich von 20 nm bis 500 nm.)

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